與化合物的光學顯微鏡進行線性測量一般包括約25毫米下降到0.2微米，這是由*大視場直徑和分辨率的顯微鏡極限主要取決于上下邊界的長度范圍。 這種互動式教學探討各種目鏡光罩用鏡臺測微計的校準，并演示了如何分劃板可以被用來確定線性試樣尺寸。

本教程初始化與水平刻度目鏡分劃板，有八個主要部門的規則（ 標準刻度分劃板），出現在疊加在一個階段微米在隨機選擇的物鏡放 大倍數視口。 操作教程，使用X-移動和Y移動滑塊操縱目鏡分劃板背后的鏡臺測微裁決。 載物臺微米平移分辨率的控制是由滑塊換算調整單選按鈕，這使粗 （默認）和測微尺的精細定位規則畢業就這些光罩的決定。 之后，測微尺已被放置在粗模滑塊的分劃板的后面，點擊精細單選按鈕，并精心搭配的測微尺規則之一（*好是編號為100微米的間隔線）與目鏡的遠左手定則掩模版（編號上的預設掩模版“0”）。

一旦分劃板和鏡臺測微裁決已經對齊，用鼠標點擊的疊加規則在目鏡分劃板的左手法則（標記為“0”的規則）來建立一個校準基準。 紅色線（基線）將出現在光標單擊鼠標按鈕時位置。 接下來，將光標移動到另一個位置到基線的右側位置在位置分劃板和載物臺微米規則再次**對齊。 再次單擊鼠標左鍵，然后第二紅線（校準線）將出現。 基線和校準線之間的距離（以微米為單位）將在一個黃色的盒子題為測微尺長度顯示在視口的下部右側。 同時，計算出的值（也微米）主要分劃板的裁決之間（有權光罩分區 ）會在一個黃色的盒子出現在視口的下部左側。 后者的值現在可以被用來測量樣品的尺寸。

后光罩已經校準，點擊標本單選按鈕，位于視口的上部右側，并且標本將出現在視口中（從選擇A試片下拉菜單中選擇）。 為了測量試樣的功能，對準特征的邊緣上使用的X翻譯和y平移滑塊目鏡分劃板（標記為“0”的規則）的左手法則。 接下來，單擊標本特征的相對邊緣的鼠標光標進行測量。 被測樣品的尺寸（以微米）將在一個黃色的盒子題為標本測量出現在視口的下部右側。 一個新的標本可以使用相同的校準（和物鏡放大倍數）從選擇A試片下拉菜單中選擇一名候選人進行測量。 為了提高分劃板的可見性，當它疊加在一個標本，選擇一個新的標線顏色（紅色是默認值）從光罩顏色下拉菜單（選擇有黑色，白色，紅色和黃色）。

另一個物鏡/目鏡分劃板校準可以通過從物鏡放大倍數下拉菜單中選擇不同的放大倍數進行。此外，一個新的掩模版可以從以下選擇一個光罩菜單中選擇。 無論這些行動（選擇一個新的放大或新標線）將重新初始化教程，使訪問者再掀校準。

線性掩模版（標準比例，十字準線，風車）用于線性測量，而電網光罩（方格網格，計數網格，同心圓，和米勒平方）被用于顆粒計數。 后者光罩也可校正在上述用于線性測量的方式。 該測厚儀掩模版是用于比較的纖維和顆粒的相對尺寸是有用的。 這是刻線對準規則集編號20與載物臺上的測微尺刻度校準。

目鏡分劃板（確定的測微尺刻度的關系）對特定物鏡的校準通常按照以下描述的建議過程（參見圖1）進行。 注意，只對特定的物鏡/目鏡組合被測試，并且在顯微鏡的特定機械管長度的目鏡標線片的那個校準成立。 為了避免不必要地重復該過程，為每個組合的校準信息應記錄，并存儲在附近的顯微鏡工作站一個方便的位置。

• 后確保顯微鏡對準并配置為科勒照明，插入適當的掩模版到顯微鏡目鏡和使玻璃分劃板盤的表面上的刻刻度顯示清晰地聚焦調整眼透鏡。 仔細檢查分劃板的方向，以確認位置上方或下方的刻線數量也不予轉回。 這個任務可以通過按住目鏡在明亮的光源前，通過眼睛盯著鏡頭來完成。 *后，調整顯微鏡雙目瞳孔間距和以后測量記錄此值。 如果該顯微鏡配備有補償在兩個目鏡調整（如大多數現代顯微鏡的情況下），掩模版的校準值將是正確的任何瞳孔間距。

 

• 放置鏡臺測微顯微鏡載物臺上，并把微米尺度成焦點采用顯微鏡粗微調焦控制旋鈕。檢測規模，將其轉換為視場的中心是通過采用低倍率的物鏡促進先找到周圍的刻度圈，然后規模本身。 環包圍微米尺度是用肉眼可見的，因此應該使用來定位微尺在顯微鏡光路中（*階段孔徑）的中心。 此外，幾個階段微米設計有刻從戒指到規模，這也有利于在使用高倍率的物鏡定位時規模的邊緣線。 旋轉的預期物鏡到位，并確保兩個秤（臺測微尺和目鏡分劃板）是在同時進行重點視場可見。

 

• 翻譯階段，使用x - γ運動控制旋鈕或手柄，和/或旋轉目鏡（及其分劃板），以使兩個尺度成平行排列（圖1（a）和1（b））。 現代機械階段通常具有圍繞顯微鏡光軸的有限度的轉動運動。 在這種情況下，松開翼形螺釘（通常位于載物臺的前部，將試樣臺的下方）并旋轉階段，直到微米和目鏡標線片是平行的。

 

• 直接定位在目鏡標線片在微米（與階段控制）和對齊的分劃板上的左手定則與1的長，編號臺上微米（100微米）的分割線（圖1（b））。 根據不同的物鏡倍率和目鏡場直徑，距離150微米和4毫米（階段微米尺度的長度的兩倍）之間的范圍內將是可見的目鏡。 在100至1000微米（10至100規則）在載物臺微米的距離，確定兩個點在哪個分劃板和微米尺度完全匹配（參見圖1）。 為了獲得*準確的測量，利用兩個尺度上的*大可能范圍劃分的。 只有偶爾做掩模版和鏡臺測微計的刻度重合在其整個長度在目鏡可見，但是這往往與制造用于特定目鏡標線片的情況。 *后，確定目鏡規模參照載物臺微米的分歧明顯的長度。

 

• 為正在使用的物鏡的測微尺的值可以通過將階段微米的選擇區域的已知長度的目鏡刻度的分割數對應的計算。 其結果將產生每刻度上的分劃板刻度為物鏡的距離，一個量通常被稱為校準常數 。 疊加在一臺測微尺在圖1的標線片（b）示出標記20的左手法則（標記為0）上的分劃板與鏡臺測微計師的對準。 這兩個規則的重疊是由紅線清晰顯示。 發生重疊的下一個區域，在載物臺上的測微尺標有30的規則與目鏡分劃板的7.5馬克一致。 因此，該階段微米的100微米的區域等于7.5分劃板的分裂。目鏡標線片的各劃分，因此，對應于13.3微米，對于特定的物鏡/目鏡組合被校準。適當的分劃板校準計算顯著數字的數量應進行仔細的審查。 因為在光學顯微鏡的*小可分辨距離約為0.2微米（在*佳情況下），低于該值的線性測量，不能精確地確定。

 

• 進行精確測量時使用配備有變焦光學系統的顯微鏡，有必要使用一個階段微米，以顯微鏡各變焦設定。 雖然許多顯微鏡變焦環和控制旋鈕都畢業于名義物鏡放大倍數，這幾乎是不可能的變焦控制返回完全相同的位置，一個必要條件精確測量。

 

• 后在目鏡標線片已校準的階段測微尺，試樣的線性尺寸均可測量。 所有測量，*高放大倍數的物鏡應選擇使感興趣的整個標本的功能下降光罩規模的跨度之內。 東方的光罩尺寸與試樣地區備受矚物鏡輪廓相吻合。 接著，將試樣轉移至左邊緣帶編號的行中的目鏡標線片重合，并且計數由物鏡區域跨越尺度分割數。 仔細估算師的任何部分。 為了提高精度，開展對大型樣品多次測量。 當圓形或橢圓形的樣品被測量（如血細胞，酵母，細菌等），記錄至少20名來自不同域的尺寸。 正在研究在圖1（c）的試樣是人類的頭皮頭發軸，它是在直徑約93微米（測量與校準的標線片，如上面所討論的）。

 

剛才所描述的校準過程必須，當然，可以重復每個物鏡要被用于線性測量。 應當指出的是放大倍數由幾百分之刻有相同的放大倍數（例如，10倍）相似物鏡（即使來自同一制造商）而變化，所以每一個物鏡應該被獨立地計算。 如果顯微鏡是經常與許多不同的物鏡時，它可能會更方便繪制校準曲線以圖形形式的每一個物鏡。 這提供了一種簡單的機制來快速確定而與顯微鏡的工作，而無需對所有的用于進行測量的物鏡施加微米的值時，重復運算的特征尺寸。

上述的校準程序提供的一個因素，其有效期為一個特定的光學組合，而不需要實際的物鏡放大倍率，通常不同于壓印在物鏡鏡筒的額定功率的知識。 在利用包含修正衣領，以適應變化的蓋玻片厚度的物鏡，是要記住重要的是與衣領的不同設置的放大率的變化。 因此，確定這樣一個物鏡的校準系數只適用于用于校準校正衣領設置。 物鏡具有可調整的套環，適用范圍廣的蓋玻片的厚度提供校正，但也表現出倍率變化到高達15％，在整個調整范圍。